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纳米到微米膜层特征分析
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产品: 浏览次数:8纳米到微米膜层特征分析 
品牌: 纳米到微米膜层特征分析
单价: 面议
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发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2024-05-24 14:48
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详细信息
集成XRD功能的赛默飞ARL9900X射线荧光光谱仪(纳米到微米膜层特征分析)是一款高效的多功能X射线分析系统,兼具XRF和XRD技术,用于过程控制。ARL9900能够满足金属工业高的化学分析精确度与可靠性需求、水泥工业过程相关的高分析需求,以及铜业和矿业的高质量控制需求。  
赛默飞ARL9900X射线荧光光谱仪技术参数:  
真空环境分析固体样品  
元素覆盖元素Be-U(安装相应的晶体)  
光管功率:1.2kW、2.5kW、3.6kW或4.2kW  
进样系统:8位或12位或98位  
重量:约750kg  
功率消耗4.8kVA  
主要特点:  
1、能匹配自动化系统,实现进样、测试和结果发送的全自动化。  
2、有XRD通道,能够同时获得元素组成和晶体结构的信息,如水泥生产过程中的游离CaO、C3S、C2S等,烧结矿中的氧化亚铁等。  
3、可以安装多达32个固定道,同时分析多个元素,提高测试效率。  
4、采用上照式的结构设计,测试结果更加稳定。  
5、可根据应用需求,选择高压发生器功率:1.2kW、3.6kW或4.2kW。  
6、光谱室真空恒温控制,晶体有独立的温控系统,确保分析的稳定性和可靠性。  
7、莫尔条纹无齿轮测角仪,定位准确,转动速度快。
http://www.bosciencesh.cn/Products-38372631.html 
https://www.chem17.com/st609756/product_38372631.html 

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